Ebenheitsmessungen auf Metallplatten

Die existierenden Messdaten und Referenzteile wurden bisher mit einem taktilen Messverfahren (CMM System) aufgenommen. Um das System auf eine 100% inline Prüfung umzustellen, sollte ein Quelltech Laser Scanner mit hoher Auflösung und hoher Scanrate zum Einsatz kommen. Um diesen Laser gestützten Prüfprozess in einer Produktion mit einer 100% Inline Prüfung einzusetzen, waren mehrere Herausforderungen zu meistern: Die ambitionierte Taktzeit war einzuhalten, die Ebenheitswerte sollten vergleichbar mit den taktil aufgenommenen Werten sein. Dabei musste berücksichtigt werden, dass eine taktile Tastspitze deutlich größere Dimensionen hat als eine Laserlinie. Das führte dazu, dass die mit Laser gemessenen Werte deutlich größere Werte annehmen als die taktil gemessenen Werte. Weiterhin mussten Randbereiche der Oberfläche speziell behandelt werden, da sich dort unerwünschte Reflektionen ergaben, die das Messergebnis verfälschten.